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keysight半导体测试解决方案

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  • 更新时间:2023-10-23

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是德科技4080 系列参数测试系统

一个高吞吐量参数测试系统,具有先进的并行测试功能和高速电容测量选件,并且符合 SEMI 标准。

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l  产品特点

Keysight 4080 系列提供了丰富的测量功能,可以充分满足基本参数测试的要求。 您可以轻松执行 VthIdsIdoffCox 等直流和电容测量。 4080 系列可支持三种类型的 SMU(源表模块)进行直流测量。 数字电压表(DVM)、频谱分析仪和 LCD 表等多种其他仪表选件可进一步增强测量功能。

2  参数测试系统兼容 SPECS 4070 系列,为业界树立测量新标杆

2  异步和同步并行测试功能可将吞吐量提升最多 50%

2  更灵活的配置:标准小电流和超小电流(12 48 引脚)

2  符合 SEMI 标准,有助于实现测试自动化

2  采用 Linux 操作系统,成本更低

2  完全整合的参数测试解决方案,可获得全方位的服务和支持

l  应用场景

4080 系列包含两个型号,可根据您的测试要求进行配置。 4082A 参数测试系统可以对成熟、先进的半导体器件执行基本参数测试,并提供了同步和异步并行测试功能。 4082F 闪存单元参数测试系统支持使用高压半导体脉冲发生器(HV-SPGU)模块和 81150A 脉冲发生器来表征闪存单元技术。

l  主要参数

2  最大 SPGU 输出通道数:10 channels

2  最大测量引脚数:48

2  最小电流测量分辨率:1 fa by HRSMU

2  最小电压测量分辨率:2 μV

2  Parallel Parametric Test Capability:否


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TEL:18611124457

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